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Bei der Beobachtung von Doppelsternen durch ein
MICHELSON-Sterninterferometer
entsteht in der Brennebene des Teleskops für jede Komponente des
Doppelsternsystems ein Interferenzstreifensystem (siehe Abb.
2 unten), wobei beide Streifensysteme entsprechend dem
Winkelabstand der Komponenten zueinander verschoben sind.
Da das Licht der Doppelsternkomponenten zueinander inkohärent ist, spielen
Interferenzerscheinungen keine Rolle und die Intensitätsverteilungen der
einzelnen Interferenzstreifensysteme addieren sich einfach zu einer resultierenden
Verteilung, welche auch wieder durch einen Wert von
charakterisiert werden kann. Haben die Doppelsternkomponenten in der
Brennebene den Abstand
, d.h. das
zentrale Maximum des Streifensystems der einen Doppelsternkomponente
überlagert das dem zentralen Maximum angrenzende Minimum der zweiten
Komponente, wodurch der Streifenkontrast mehr oder weniger verschwindet
(die Tiefe des Minimums vom ist auch vom Helligkeitsverhältnis
der Doppelsternkomponenten abhängig). Bei einem Komponentenabstand von
überlagert das zentrale Maximum
der einen Komponente das dem zentralen Maximum benachbarte Maximum der
zweiten Komponente, wodurch ein Maximum erreicht.
Bei
wird wieder minimal,
bei
wieder maximal usw.
(der Spaltabstand war bisher fest - folglich waren auch die
Interferenzstreifensysteme der einzelnen Doppelsternkomponenten unverändert).
Der kleinste
mit dem MICHELSON-Sterninterferometer auflösbare Winkelabstand
der Komponenten eines Doppelsternsystems beträgt also
.
Vergleicht man diesen Wert mit dem
bei Beobachtung ohne Interferometeraufsatz auflösbaren Winkelabstand
erreichbaren Auflösungsvermögen, so ergibt sich
bei :
. Praktisch ist der Gewinn an Auflösung noch größer als
2,5.
Zur Bestimmung des Winkelabstandes der Komponenten eines
Doppelsternsystems wird der Verlauf des Kontrastes in Abhängigkeit
vom Spaltabstand bestimmt. Mit der Veränderung des Spaltabstandes
verändern sich diesmal jedoch die Interferenzstreifensysteme der einzelnen
Doppelsternkomponenten (mit wachsendem Spaltabstand werden die Abstände
der Streifen - Minima II. Klasse - geringer, d.h. die Zahl der Streifen
wächst, siehe dazu auch Abb. 3), der Abstand der Zentren der
Streifensysteme zueinander bleibt jedoch gleich.
Die Intensitätsverteilung des Streifensystems, das im Falle des Lichtes
eines Doppelsternsystems hinter einem Doppelspalt entsteht (siehe
Abb. 4),
kann als Summe der in der
Brennebene um den Abstand verschobenen Intensitätsverteilungen
der Interferenzstreifensysteme der einzelnen als punktförmig angenommenen
Komponenten A und B des Doppelsternsystems
(siehe Gleichung (1)) ausgedrückt werden:
Dabei liegt die Doppelsternkomponente A auf der optischen Achse, die
Komponente B ist um den gesuchten Winkelabstand , welcher in
der Brennebene in -Richtung als linearer Abstand erscheint, zu A
verschoben (siehe Abb. 5), wobei gilt:
( im Bogenmaß).
Gleichung (3) kann vereinfacht werden, wenn man annimmt,
daß , d. h. wenn die die Streifen einhüllende Funktion
nur sehr langsam abfällt,
also in der Nähe des Zentrums ist:
|
(4) |
Der Kontrast des Streifensystems beim Spaltabstand
kann nun bestimmt werden, indem man zunächst für die in
(4) gegebene Intensitätsverteilung die Werte von
und ermittelt und diese anschließend in
(2) einsetzt. Mit
( wird nur aus Übersichtsgründen eingeführt) und
gilt:
|
(5) |
Aus Abb. 5 wird ersichtlich, daß eine
Winkelabstandsbestimmung von Doppelsternen praktisch nur für solche
Objekte mit geringem Helligkeitsunterschied möglich ist, da nur in
diesen Fällen Kontrastunterschiede deutlich sichtbar werden
(
mag,
mag).
Im Falle beobachtbarer
Kontrastunterschiede kann dann aber neben der Abstandsinformation mit Hilfe
von und auch auf das Intensitätsverhältnis
geschlossen werden:
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Juergen Weiprecht
2002-10-29